德國(guó)FISCHER菲希爾X射線熒光光譜儀 華東總代理—供應(yīng)商、廠家、特點(diǎn)、詳細(xì)說(shuō)明:
      材料分析-FISCHERSCOPE? GOLDLINE ASSAY
        X射線熒光法是高效的材料分析工具。它廣泛應(yīng)用于鍍層厚度測(cè)量,同時(shí)也適于進(jìn)行元素分析。
      可以對(duì)幾乎任意尺寸和狀態(tài)的工件進(jìn)行分析。粉末和糊狀材料可以和固體或液體一樣進(jìn)行分析。FISCHERSCOPE? X-Ray XAN? 和XDAL系列是能量分散的高性能X射線熒光光譜儀,它可以對(duì)未知材料進(jìn)行簡(jiǎn)單,快速而精確的分析。分析范圍從鋁(Al)到鈾(U),即使含量很小也可以測(cè)量。
      這些獨(dú)特的儀器之所以具有如此強(qiáng)大的性能,是因?yàn)樗褂昧藥х甓鋮s的高光譜分辨率的半導(dǎo)體探測(cè)器和用于材料和多鍍層分析的WinFTM? V6軟件。
      如果與應(yīng)用工具箱Gold Assay組合在一起,這些儀器系列也是FISCHERSCOPE? GOLDLINE ASSAY的一部分--珠寶和貴金屬領(lǐng)域快速、無(wú)損和精確測(cè)量金含量的理想設(shè)備。
      1、XAN? 120X射線光譜儀
      貴金屬及珠寶首飾材料分析的理想工具
      新款FISCHERSCOPE? X-Ray XAN? 120是一臺(tái)款現(xiàn)代化桌上X射線光譜儀(EDXRF)。它特別為快速無(wú)損地分析珠寶首飾、貴金屬而設(shè)計(jì)。這些首飾和貴金屬包括黃白金,鉑和銀,銠,硬幣以及所有的首飾合金和鍍層。
      XAN? 120測(cè)量準(zhǔn)確,使用安全簡(jiǎn)便,堅(jiān)固耐用節(jié)省維護(hù)費(fèi)用。而且,它符合標(biāo)準(zhǔn)DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器,配合快速信號(hào)處理系統(tǒng)能達(dá)到極高的精確度和非常低的檢測(cè)限。只需短短數(shù)秒鐘,所有從17號(hào)元素氯到92號(hào)元素鐳的所有元素都能準(zhǔn)確測(cè)定。
      無(wú)論您想測(cè)量未知樣品還是測(cè)定未知材料,XAN? 120 配合優(yōu)異的菲希爾 WinFTM? 運(yùn)行軟件都是您正確的選擇。
      采用新改進(jìn)的基本參數(shù)法,無(wú)論是無(wú)標(biāo)準(zhǔn)片測(cè)量還是有標(biāo)準(zhǔn)片測(cè)量,都能快速并且準(zhǔn)確的獲得測(cè)量結(jié)果。為了簡(jiǎn)化樣品放置,X射線源和高分辨硅-PIN-接收器置于了 XAN? 120 的底部,從而可以采用射線向上的測(cè)量技術(shù)。
      集成了含十字線、射線位置指示標(biāo)志、光亮及位置調(diào)節(jié)的視頻顯微系統(tǒng),將使得樣品的放置和測(cè)量定位變得快捷而容易。現(xiàn)在您不再需要調(diào)節(jié)測(cè)量臺(tái)或是樣品臺(tái)——只需放下樣品即可開(kāi)始測(cè)量。
        長(zhǎng)期的穩(wěn)定性和出色的精確度——對(duì)于金優(yōu)于1‰——是 XAN? 120的優(yōu)勢(shì)所在。而且,由于不需要經(jīng)常進(jìn)行再校準(zhǔn),從而節(jié)省了使用者的時(shí)間、精力及經(jīng)營(yíng)成本。測(cè)量結(jié)果可以以Karat、 ‰ 或重量 %顯示,并且可以按客戶報(bào)表打印輸出。
      優(yōu)秀的人體學(xué)設(shè)計(jì),簡(jiǎn)單的操作即測(cè)量結(jié)果的快速計(jì)算是對(duì)XAN? 120最好的描述。使用安全而簡(jiǎn)單——無(wú)論是對(duì)經(jīng)驗(yàn)豐富還是接受較少培訓(xùn)的員工都是如此。不需要為XAN? 120特別設(shè)置一個(gè)實(shí)驗(yàn)室房間。如果您需要一臺(tái)出色、準(zhǔn)確可靠的測(cè)量?jī)x器,XAN? 120 是您正確的選擇。 為個(gè)人計(jì)算機(jī)而設(shè)計(jì)的WinFTM? 測(cè)試軟件
      先進(jìn)的Fischer WinFTM? 軟件有著無(wú)與倫比的性能:完整、簡(jiǎn)單易用而且不需要補(bǔ)充模塊或是軟件升級(jí)。軟件包括 :
      X射線部件的操作
      控制整個(gè)測(cè)量過(guò)程
      先進(jìn)的基本參數(shù)法可進(jìn)行無(wú)標(biāo)準(zhǔn)片測(cè)量
      用受認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行校準(zhǔn),可以完成有標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校的測(cè)量
      可以同時(shí)分析材料成分和測(cè)量計(jì)算鍍層厚度
      按照元素波峰進(jìn)行自動(dòng)元素識(shí)別
      測(cè)量值可以以karat, wt% 或 ‰表示
      客戶自定義報(bào)表工具
  2、FISCHERSCOPE? X-RAY XDAL X射線光譜儀
      FISCHERSCOPE? X-RAY XDAL 是一款適用于大批量材料分析的X-射線光譜儀。
      由于可檢測(cè)元素范圍寬至從鋁到鈾,使得FISCHERSCOPE? X-RAY XDAL 的應(yīng)用范圍延伸至從工業(yè)到科學(xué)領(lǐng)域。無(wú)論分析應(yīng)用于冶金上的,地質(zhì)上的,石化上的還是其它種類的材料,F(xiàn)ISCHERSCOPE? X-RAY XDAL 都是一款強(qiáng)有力的和經(jīng)濟(jì)的光譜儀。
      內(nèi)置的彩色視頻頭使得X-射線光束快速和精確地定位于被測(cè)工件上需要分析的范圍。該儀器所提供的性能和特征的集合是在同樣價(jià)格范圍內(nèi)的材料分析儀中無(wú)法找尋到的。
      大測(cè)量箱,可編程的X-Y工作臺(tái),X-射線從上往下的設(shè)計(jì),X-射線發(fā)生管和接受器裝配系統(tǒng)的Z-軸運(yùn)行使得設(shè)備非常適合于幾個(gè)被測(cè)物體的編程測(cè)量和掃描較大工件。
      獨(dú)特的WinFTM? V6 i軟件是該儀器的核心。它可以分析多達(dá)24種元素的材料,無(wú)須校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)塊,帶預(yù)估測(cè)量精度,以及測(cè)量非常復(fù)雜的鍍層系統(tǒng)。
      3、XDV?-SDD X-射線光譜儀
      您的產(chǎn)品符合RoHS指令嗎?
      您收到的黃金與你所付出的相一致嗎?
      您的電鍍過(guò)程是否節(jié)省成本并且可靠呢?
      該款儀器特別為頗具挑戰(zhàn)性的RoHS/ WEEE分析而研發(fā)。而且,它還十分適合于測(cè)量黃金及其他貴金屬,分析金的成分重復(fù)性可達(dá)0,5 ‰。
      對(duì)于鍍層:不僅可以測(cè)量其成分比例,還可以測(cè)量器厚度!
      XDV?-SDD 是一款真正全能的測(cè)試儀器!
      RoHS / WEEE
      可靠地測(cè)量Pb, Hg, Cd, Br及Cr元素。在塑料中可達(dá)到的測(cè)量下限Pb為2 ppm,對(duì)Cd為10 ppm。
      RoHS / WEEE對(duì)Pb的限制為1000 ppm以及對(duì)Cd為100 ppm,儀器能可靠地予以驗(yàn)證。
      塑料樣品可以不考慮其厚度而進(jìn)行準(zhǔn)確分析。
      即使是微小的電子元器件或印刷線路板上的鍍層系統(tǒng)也可以高精度地分析。
      XY(Z)平臺(tái)可用來(lái)自動(dòng)掃描印刷線路板。
      WinFTM? V.6 BASIC軟件
      在一次測(cè)量過(guò)程中,最多可測(cè)定包括鍍層厚度和元素成分比例在內(nèi)多達(dá)24個(gè)特征參數(shù)。
      可測(cè)的鍍層厚度小至10納米。
      大多數(shù)情況下,復(fù)雜的多鍍層系統(tǒng)可以在無(wú)標(biāo)準(zhǔn)片(無(wú)調(diào)校)模式下高精度地分析。
      每個(gè)程式在使用最多64片標(biāo)準(zhǔn)片下,可達(dá)到最高的準(zhǔn)確度。
      這同時(shí)也保證了測(cè)量結(jié)果的可追溯性。
      X射線校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片提供DKD 校準(zhǔn)證書(shū),遵循DIN EN ISO/IEC 17025標(biāo)準(zhǔn)。
      WinFTM? V.6 軟件能精確測(cè)量從幾個(gè)ppm到100%的成分含量。
      4、XAN? 150X射線光譜儀
      XAN? 150特別適合測(cè)量和分析超薄鍍層,即使鍍層的結(jié)構(gòu)十分復(fù)雜或是組分含量非常微小,XAN150都能準(zhǔn)確測(cè)量。
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