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Ux-6200  貴金屬分析儀


一、產(chǎn)品信息：
    本儀器專門針對貴金屬測試，采用最新的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用最新Si-PIN探測器，其分辨率為149±5eV，運用領先于全球的基本參數(shù)法，能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質元素，其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內(nèi)領先水平。

二、應用領域：
    貴金屬(Pt、Au、Pd、Ag、Rh等)相關制品的生產(chǎn)、銷售、回收的檢測；
    用于各種金屬合金（銅合金、鐵合金、不銹鋼、錫合金等）的成份分析。

三、功能：
    開放式工作曲線，可以根據(jù)需求建立新工作區(qū)
    經(jīng)驗系數(shù)法和基本參數(shù)法相結合
    測試樣品：各種不同形狀樣品，滿足大樣品測試需求
    安全性能：迷宮式設計，完全達到輻射安全指標
    測試操作簡單，實現(xiàn)傻瓜式操作模式
    報告模板多樣化，適應各種測試需求 

四、儀器參數(shù)：
    分析軟件：Ux-6280專用貴金屬分析軟件
    分析元素種類：26種元素可同時分析
    分析方法：基本參數(shù)法（定量）
    分析元素范圍：Na-U,可同時分析26種元素
    測量范圍：ppm-100%
    測量時間：100－300s
    精確度：0.1%（常量相對誤差）
    分辨率：149±5eV
    管壓：5KV—50KV
    管流：50uA—1000uA
    功率：350W
    外形尺寸：640（W）*474（D）*412（H）（mm3）
    樣品倉尺寸：300（W）*300（D）*100（H）（mm3）
    重量：約48Kg
    工作環(huán)境：15－30°C，相對濕度≤85%（不結露）
    工作電源：AC220－240V，50/60Hz，350W

五、標準配置：
    探測器： 2級半導體電制冷；探測器晶體厚度500μm；探測靈敏面積6mm2；Be窗厚度為1mil
    高壓電源：高壓范圍0-50kV，功率50W，8h穩(wěn)定性0.05%
    X射線管：專用薄鈹窗側窗X射線管（Mo靶、Rh靶）
    高清攝像頭裝置
    精確定位裝置
    自動開蓋裝置

●   售后服務
由專業(yè)的技術人員提供全面、系統(tǒng)的培訓，直至客戶熟練掌握操作方法及技巧，我司出售的儀器提供終身維修服務。