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[供應(yīng)]BKT-2HX型薄膜材料磁電阻特性測試儀
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- 更新日期：2023-11-15 11:53:55
- 有效期至：2024-11-14
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BKT-2HX型薄膜材料磁電阻特性測試儀
詳細(xì)信息
BKT-2H(X)型薄膜材料磁電阻特性測試儀
BKT-2H(X)型薄膜材料磁電阻特性測試儀
關(guān)鍵詞: 半導(dǎo)體，磁電阻，薄膜測量，巨磁
一、儀器簡介及原理
用巨磁電阻和各向異性磁電阻磁性薄膜材料制作計算機(jī)硬盤讀出磁頭和各種弱磁傳感器，已經(jīng)廣泛應(yīng)用于信息技術(shù)、工業(yè)控制、航海航天導(dǎo)航等高新技術(shù)領(lǐng)域。該儀器選用高精度電阻測量專用儀表和數(shù)控掃描電源，外部連線簡單直觀，可連接計算機(jī)自動采集和顯示數(shù)據(jù)，具有牢固可靠、操作簡便等優(yōu)點，非常適合于大專院校實驗教學(xué)和科研使用.
二、儀器用途
通過該儀器可以完成以下測試工作：
(1)金屬、半導(dǎo)體、導(dǎo)電高分子薄膜(或塊體)電阻率的測量
(2)金屬薄膜材料電阻率的測量(最大厚度0.2毫米)金屬塊體材料電阻率的測量(最大厚度3毫米)
(3)磁性合金薄膜的磁電阻測量
(4)鐵磁/非磁性/鐵磁三層或多層薄膜的磁電阻測量
(5)自旋閥型巨磁電阻薄膜、隧道結(jié)型巨磁電阻薄膜的磁電阻測量
(6) 霍爾效應(yīng)傳感器， 各向異性磁電阻傳感器， 巨磁電阻傳感器， 隧道磁電阻傳感器薄膜的磁電阻測量
三、技術(shù)指標(biāo)
1、測試方式:探針組件
2、系統(tǒng)主機(jī):30A
3、直流數(shù)字電壓表具有6位半字長，精度高
4、自編的數(shù)據(jù)采集軟件，操作界面友好
5、亥姆霍茲線圈:最大磁場強(qiáng)度400Oe，最大可以達(dá)到4000 Oe 無剩磁。
6、線圈電源:10A
7、系統(tǒng)主機(jī):30A
8、教學(xué)中AMR、GMR、TMR各類樣品的磁電阻特性測試。
9、輸入信號動態(tài)范圍為±30dB；
10、輸出電平靈敏度為30mV/dB；
11、輸出電流為8mA；轉(zhuǎn)換速率為25V/μs
12、相位測量范圍為0~180°
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