測量儀器大廠泰克(Tektronix)在上個月第一家宣布了用于USB 3.0的測試工具,可以幫助開發(fā)人員驗證新規(guī)范與硬件設計之間的兼容性。
USB 3.0在實際設備應用中將被稱為“USB SuperSpeed”,順應此前的USB 1.1 FullSpeed和USB 2.0 HighSpeed。預計支持新規(guī)范的商用控制器將在2009年下半年面世,消費級產(chǎn)品則有望在2010年上市。
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