北京科瑞科瑞三門科技有限公司

主要特性與技術(shù)指標(biāo)

廣泛的動態(tài)范圍：在測試端口處具有 > 123 dB 的動態(tài)范圍（典型值） 極快的測量速度：全雙端口校準(zhǔn)時為 41 ms，1601 點(diǎn) 低跡線噪聲：70 kHz 中頻帶寬（IFBW）處為 0.004 dB rms 集成的 S 參數(shù)測試裝置 端口選項：2 端口和 4 端口 平衡測量能力（4 端口選件） 頻率選件：9 kHz 至 4.5 GHz/8.5 GHz、100 kHz 至 4.5 GHz/8.5 GHz （帶有偏置 T 型接 選件   E5071C-008Frequency offset modeE5071C-010Time domain analysisE5071C-017Removable hard disk driveE5071C-019Standard hard disk driveE5071C-1A7Calibration + Uncertainties + GuardbandingE5071C-1CMRack mount kitE5071C-1CNFront handle kitE5071C-1CPRack mount and front handle kitE5071C-1E5High stability timebaseE5071C-2402-port Test Set， 9 kHz to 4.5 GHz without Bias TeesE5071C-2452-port Test Set， 100 kHz to 4.5 GHz with Bias TeesE5071C-2602-port Test Set， 9 kHz to 6.5 GHz without Bias TeesE5071C-2652-port Test Set， 100 kHz to 6.5 GHz with Bias TeesE5071C-2802-port Test Set， 9 kHz to 8.5 GHz without Bias TeesE5071C-2852-port Test Set， 100 kHz to 8.5 GHz with Bias TeesE5071C-2D52-port Test Set， 300 kHz to 14 GHz with Bias TeesE5071C-2K52-port Test Set， 300 kHz to 20 GHz with Bias TeesE5071C-4404-port Test Set， 9 kHz to 4.5 GHz without Bias TeesE5071C-4454-port Test Set， 100 kHz to 4.5 GHz with Bias TeesE5071C-4604-port Test Set， 9 kHz to 6.5 GHz without Bias Tees