東莞市源益電子有限公司

主營(yíng):線材測(cè)試機(jī),層間短路測(cè)試,LCR電橋,阻抗分析儀,變壓器測(cè)試機(jī)
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[供應(yīng)]直流偏流源WK3265B
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  • 產(chǎn)品產(chǎn)地:臺(tái)灣
  • 產(chǎn)品品牌:Wayne Kerr
  • 包裝規(guī)格:150*440*520mm
  • 產(chǎn)品數(shù)量:1000
  • 計(jì)量單位:普通
  • 產(chǎn)品單價(jià):1
  • 更新日期:2016-02-16 16:58:44
  • 有效期至:2017-02-15
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直流偏流源WK3265B 詳細(xì)信息

量測(cè)參數(shù) 以下任何參數(shù)皆可測(cè)試并顯示于LCD: 電感模式 電感(L),電阻(Z), 直流電阻Rdc及電容(C)。 適用串聯(lián)/并聯(lián)等效電路 Loss?。簦澹颍恚浩焚|(zhì)因素(Q), 消散因素(D),交流電阻,相位角……等 Handier模式 Enables?。澹椋螅簦椋睿纭。矗鳎椋颍濉。螅悖幔睿睿澹颍蟆。簦铮猓濉。酰螅澹? Functions?。幔蟆。妫铮颉。椋恚穑澹洌幔睿悖洹。恚铮洌濉? With the?。幔洌洌椋簦椋铮睢。铮妗。簦酰睿蟆。颍幔簦椋? 變壓器測(cè)試模式 各線圈之直流電阻,初級(jí)圈/次級(jí)圈之漏電感(Leakage lnductance)及品質(zhì)因素(Q),圈數(shù)比(TR),線圈間電容(lnterwinding?。茫幔穑幔悖椋簦幔睿悖澹┘奥╇姼校ǎ蹋澹幔耄幔纾濉。欤睿洌酰悖簦幔睿悖澹┝砜纱钆浣^緣測(cè)試功能(選購(gòu))。 通訊測(cè)試模式 提供插入損失(IL)及反射損失(RL)測(cè)試功能,適合于通訊用匹配變壓器speech?。猓幔睿洌ǎ保埃埃龋。簦铩。玻埃耍龋蛇x擇的line impedance(Zo)及termination(Rt)值,并可設(shè)定額外的模擬阻抗及電容。 圓形分析模式 可在量測(cè)模式下以頻率或AC電壓為掃描基準(zhǔn),來(lái)執(zhí)行圓形掃描度顯示結(jié)果。可選擇以linear或log為座標(biāo)。 多頻率測(cè)試模式 可在量測(cè)模式下設(shè)定量測(cè)參數(shù)及測(cè)試條件,最多8種不同的測(cè)試頻率,PASS/FAIL提示功能設(shè)定(依一般值或百分比)。 測(cè)式條件 低電壓信號(hào)位準(zhǔn) 適用于量測(cè)L+Q,Ls+Rs, C,Z,Turns Ratio及Leakage  Lnductance 頻率范圍 20Hz?。簦铩。常停龋y(cè)試lnterwinding?。脮r(shí)低點(diǎn)為1KHz) 頻率波段 Lncrements of?。保ァ。铮颉。猓澹簦簦澹颉。幔悖颍铮螅? Range 1200?。妫颍澹瘢酰澹睿悖椋澹蟆。幔穑穑颍铮? 精準(zhǔn)度 ±0.01% 信號(hào)位準(zhǔn) 內(nèi)阻50Ω 1mV to?。保埃帧。颍恚蟆。椋睿簦铩。铮穑澹睢。悖椋颍悖酰椋簟? 50uA?。簦铩。玻埃埃恚痢。颍恚蟆。椋睿簦铩。螅瑁铮颍簟。悖椋颍悖酰椋? ALC?。恚幔椋睿簦幔椋睿蟆。欤澹觯澹臁。幔穑穑欤椋澹洹。簦铩? DUT?。幔? ±2%,±1mV of set?。觯铮欤簦幔纾濉。铮? ±2% ±0.1mA of?。螅澹簟。悖酰颍颍澹睿? DC bias 直流偏壓電流 內(nèi)建1mA?。簦铩。保痢。洌?,全頻率快速設(shè)定 安全保護(hù)開(kāi)關(guān)設(shè)計(jì) 直流電阻測(cè)試 低電壓信號(hào)位準(zhǔn) ?。保埃埃恚? 短路電流 ?。保埃恚? 絕緣測(cè)試(選購(gòu)) 測(cè)試電壓選擇?。保埃埃玻埃啊。铮颉。担埃埃帧。洌悖? 電壓輸出誤差范圍  ±3% 為了使用者操作安全,短路時(shí)限流2mAc 以下 Bin?。龋幔睿洌欤澹蚰J剑ㄟx購(gòu)) 依照一般值或百分比設(shè)定高點(diǎn)10段分類功能。 提供個(gè)別的Pass/Fail信號(hào)輸出。 內(nèi)建記憶體,可儲(chǔ)存100組分類范圍設(shè)定,TTL輸出至外接bin?。瑁幔睿洌欤澹颍玻担穑椋睢? D?。簦穑濉〗宇^ 通訊測(cè)試模式(選購(gòu)) 輸出信號(hào)位準(zhǔn)   ?。玻钢粒保叮洌拢? 測(cè)試時(shí)間依信號(hào)準(zhǔn)而有所有不同 Zo/Rt         50-2000Ω 一般測(cè)試時(shí)間   ?。迹保担? 量測(cè)速度 在做阻抗,圈數(shù)比,直流電阻以及絕緣等測(cè)試時(shí),共有4種測(cè)試速度可依同需求做適當(dāng)選擇,MAXimum,FAST, MEDium 及?。樱蹋希? MAX(25次/秒)適合于連接IEEE 488.2外部控制時(shí)使用 FAST約10次/秒 SLOW約1次/秒 適用于需要高精度度時(shí). 量測(cè)范圍 R         ?。埃保挺浮。裕稀。尽。玻铅福? L         ?。埃保睿取。簦铩。尽。保埃埃埃取。? C          ?。担疲妗。簦铩。尽。保? 精準(zhǔn)度 Lnductance/Rac/Z/Cp  ±0.1%** Q               ±0.1%(Q+1/Q)** D          ±0.001%(1+1/D2)** Turns?。颍幔簦椋铩      溃埃保ィ? Rdc              ±0.5% lnsulation  ±5%(500V test) lnsertion?。蹋铮螅蟆  溃埃保ィ洌? Return?。蹋铮螅蟆   溃保ィ洌? 精準(zhǔn)度依frequency,Zo,Rt,range,leve等設(shè)定不同而有所變化. *依測(cè)試速度不同而有所變化. **依頻率及選用功能不同而有所變化.

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