inTESTTemptronicATS-545-M高低溫沖擊測(cè)試機(jī)
上海伯東inTEST美國(guó)進(jìn)口高低溫沖擊測(cè)試機(jī)中國(guó)總代理:TemptronicThermoStreamATS-545-M熱銷款高低溫沖擊測(cè)試機(jī)。溫度沖擊范圍:-80°C至+225°C;旋鈕式控制面板,支持測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)。inTESTATS-545-M是舊款高低溫測(cè)試機(jī)TemptronicTP04310和ThermonicsT-2820全新升級(jí)款!~
高低溫沖擊測(cè)試機(jī)應(yīng)用:協(xié)助企業(yè)完成電子元件電性能測(cè)試、可靠性測(cè)試、高低溫循環(huán)測(cè)試和高低溫沖擊測(cè)試,例如集成電路IC卡溫度測(cè)試、半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試、PCB電路板高低溫測(cè)試、光通訊器件高低溫測(cè)試 (Flash、EMMC、transciever)等等任何您需要測(cè)試的地方!
 高低溫沖擊測(cè)試機(jī) TemptronicThermoStreamATS-545-M技術(shù)參數(shù):
型號(hào)
溫度范圍
°C
輸出
氣流量
變溫速率
溫度
精度
溫度顯示分辨率
溫度
傳感器
遠(yuǎn)程
控制
ATS-545-M
-80至+225
4至18scfm
1.8至8.5 l/s
-55至+125°C<10s
 +125至-55°C<10s
±1℃
±0.1℃
T型或
K型
熱電偶
IEEE488
RS232
inTEST高低溫沖擊測(cè)試機(jī)功能特點(diǎn):
自動(dòng)升降溫:冷凍機(jī)(Chiller)特殊設(shè)計(jì),制冷劑不含氟利昂、安全無毒、不易燃,有效保護(hù)環(huán)境;不需要液態(tài)氮?dú)?LN2)或液態(tài)二氧化碳(LCO2)冷卻
旋鈕式控制面板
溫度顯示精度:±1℃(通過美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院 NIST校準(zhǔn))
過熱溫度保護(hù):出廠設(shè)置溫度+230°C,操作員可根據(jù)實(shí)際需要設(shè)置高低溫限制點(diǎn)。
加熱模式下,冷凍機(jī)可切換成待機(jī)模式,以減少電力消耗
大氣流量輸出,變溫速率快,節(jié)省操作時(shí)間,熱流罩提供局限性的溫度測(cè)試環(huán)境,特別適合溫度沖擊測(cè)試;專利設(shè)計(jì)防止水氣在DUT上凝結(jié)
 
與傳統(tǒng)高低溫測(cè)試箱、溫濕度測(cè)試箱對(duì)比,inTESTThermoStream高低溫測(cè)試機(jī)主要優(yōu)勢(shì):
1、變溫速率更快
2、溫控精度:±1℃
3、實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)待測(cè)元件真實(shí)溫度,可隨時(shí)調(diào)整沖擊氣流溫度
4、針對(duì)PCB電路板上眾多元器件中的某一單個(gè)IC(模塊),可單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊,而不影響周邊其它器件
5、對(duì)測(cè)試機(jī)平臺(tái)loadboard上的IC進(jìn)行溫度循環(huán)/沖擊;傳統(tǒng)高低溫箱無法針對(duì)此類測(cè)試。
6、對(duì)整塊集成電路板提供精確且快速的環(huán)境溫度。
溫度沖擊測(cè)試方法:
inTEST-Temptronic高低溫沖擊測(cè)試機(jī)提供兩種檢測(cè)模式AirMode和DUTMode
通過熱流罩或測(cè)試腔將被測(cè)IC與周邊環(huán)境隔離,然后對(duì)IC循環(huán)噴射冷熱氣流,使IC溫度短時(shí)間發(fā)生急劇變化,從而完成溫度循環(huán)和溫度沖擊的測(cè)試。
inTEST高低溫沖擊測(cè)試機(jī)ATS-545-M基本參數(shù)
尺寸cm
款x深x高61X72.4X108
重量kg
236
最高cm
160
最高操作高度cm
130.3(可選的擴(kuò)展高度188)
最低操作高度cm
69.1(可選的擴(kuò)展高度81.3)
噪音
<65dBA
提供inTEST-TemptronicATS-545-M機(jī)械手臂版本和ATS-545-T測(cè)試腔版本供您選擇!
 
上海伯東客戶inTEST高低溫測(cè)試機(jī)光通信收發(fā)器(transciever)溫度測(cè)試案例:
inTESTThermoStream已全面取代Temptronic和Thermonics
Temptronic創(chuàng)立于1970年,在2000年被inTEST收購(gòu),成為在美國(guó)設(shè)立的超高速溫度環(huán)境測(cè)試機(jī)的首家制造商。而Thermonics創(chuàng)立于1976年,在2012年被inTEST收購(gòu),使inTEST更強(qiáng)化高低溫循環(huán)測(cè)試以及溫度沖擊測(cè)試領(lǐng)域的實(shí)力。在2013年inTESTThermalSolutions用嶄新的研發(fā)技術(shù)發(fā)展出獨(dú)創(chuàng)的溫度環(huán)境測(cè)試機(jī),將TemptronicTPO系列以及ThermonicsPTFS系列整合進(jìn)化成inTESTThermoStream ATS超高速溫度環(huán)境測(cè)試系列產(chǎn)品。上海伯東作為inTEST中國(guó)總代理,全權(quán)負(fù)責(zé)inTEST新品銷售和售后維修服務(wù)。
上海伯東版權(quán)所有,翻拷必究!
上海伯東主營(yíng)真空品牌:德國(guó)Pfeiffer真空設(shè)備美國(guó)BrooksPolycold冷凍機(jī)美國(guó)KRI考夫曼離子源美國(guó)HVA真空閘閥:美國(guó)inTEST(Temptronic)高低溫循環(huán)試驗(yàn)機(jī)日本NS離子蝕刻機(jī)等。
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