晶元光罩技術(shù)-多國(guó)發(fā)明專利:
測(cè)量精度完全不受機(jī)械誤差影響
無阿貝誤差
X,Y平面坐標(biāo)精度≤±2.5μm
無需擺正,無需定位,兩點(diǎn)自動(dòng)對(duì)位
直接調(diào)入DXF,DRL進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)
雙鏡頭實(shí)時(shí)同步導(dǎo)航地圖功能
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儀光光學(xué):專業(yè)生產(chǎn)銷售影像測(cè)量?jī)x、三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)、玻璃厚度測(cè)量、激光平面度測(cè)量、瑕疵檢測(cè)、輪廓檢測(cè)、量身定制高效測(cè)量機(jī)及自動(dòng)化檢測(cè)設(shè)備
網(wǎng)址:7ocean.net
全國(guó)銷售熱線:400-0769-718
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