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TS系列冷熱沖擊試驗箱設(shè)備規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗功能，實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計- 確保了設(shè)備的高可靠性；

冷熱沖擊試驗箱，溫度沖擊試驗箱，高低溫沖擊試驗箱  的詳細(xì)介紹
TS系列冷熱沖擊試驗箱，溫度沖擊試驗箱，高低溫沖擊試驗箱
*設(shè)備特點(diǎn)
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；
設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗功能，實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；
高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計- 確保了設(shè)備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強(qiáng)，使用壽命長；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到最??；
表面噴塑處理- 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命；
高強(qiáng)度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門的高密封性；
多種可選功能（測試孔、記錄儀、測試電纜等）保證了用戶多種功能和測試的需要；
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果；
環(huán)保型制冷劑 –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護(hù)要求；

*可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標(biāo)/定制各種選配功能

*溫度控制
可實(shí)現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實(shí)現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯；
每臺電機(jī)均配置過流（過熱）保護(hù)/加熱器設(shè)置短路保護(hù)，確保了設(shè)備運(yùn)行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴(kuò)展功能滿足客戶的多種需要；
采用國際流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用國際知名品牌產(chǎn)品，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；

*設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 軍用裝備實(shí)驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 軍用裝備實(shí)驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗
GJB 150.5A-2009 軍用裝備實(shí)驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗

型 號
 
 
TSL-80-A
TSU-80-W
TSS-80-W  TSL-150-A
TSU-150-W
TSS-150-W  TSL-225-W
TSU-225-W
TSS-225-W  TSL-408-W
TSU-408-W
TSS-408-W
標(biāo)稱內(nèi)容積（升）  80  150  200  300
試驗方式  氣動風(fēng)門切換2溫室或3溫室方式
性能  高溫室  預(yù)熱溫度范圍  ＋60～＋200℃
升溫速率※1  ＋60→＋200℃≤20分鐘
低溫室  預(yù)冷溫度范圍  －78－0℃
降溫速率※1  ＋20→－75℃≤80分鐘
試驗室  溫度偏差  ±2℃
溫度范圍  TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃
TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃
TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃
溫度恢復(fù)時間※2  5分鐘以內(nèi) www.oven.cc
試樣擱架承載能力  30kg
試樣重量  7.5kg  7.5kg  10kg  10kg
內(nèi)部尺寸（mm）  W  500  600  750  850
H  400  500  500  600
D  400  500  600  800
外形尺寸（mm）※4  W  1460  1560  1710  1880
H  1840  1940  1940  2040
D  1500  1600  1700  1900
※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時的性能。
※2恢復(fù)條件：室溫為＋25℃和循環(huán)水溫為＋25℃，試樣是塑料封裝集成電路。（均布）
 
型號
 
 
TSL-80-A
TSU-80-W
TSS-80-W
TSL-150-A
TSU-150-W
TSS-150-W
TSL-225-W
TSU-225-W
TSS-225-W
TSL-408-W
TSU-408-W
TSS-408-W
標(biāo)稱內(nèi)容積（升）
80
150
200
300
試驗方式
氣動風(fēng)門切換2溫室或3溫室方式
性能
高溫室
預(yù)熱溫度范圍
＋60～＋200℃
升溫速率※1
＋60→＋200℃≤20分鐘
低溫室
預(yù)冷溫度范圍
－78－0℃
降溫速率※1
＋20→－75℃≤80分鐘
試驗室
溫度偏差
±2℃
溫度范圍
TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃
TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃
TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃
溫度恢復(fù)時間※2
5分鐘以內(nèi)
試樣擱架承載能力
30kg
試樣重量
7.5kg
7.5kg
10kg
10kg
內(nèi)部尺寸（mm）
W
500
600
750
850
H
400
500
500
600
D
400
500
600
800
外形尺寸（mm）※4
W
1460
1560
1710
1880
H
1840
1940
1940
2040
D
1500
1600
1700
1900
※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時的性能。
※2恢復(fù)條件：室溫為＋25℃和循環(huán)水溫為＋25℃，試樣是塑料封裝集成電路。（均布）

  冷熱沖擊試驗箱規(guī)格表(Programmable Thermal Shock Tster)
———— 不符合此規(guī)格◎符合此規(guī)格★可配增加此功能※可配增加LN2功能
試驗規(guī)范
  駐留溫度(℃)
(exposure temp.)
駐留溫度時間(Min)
(exposure time)
覆歸時間
(recovery time)
  周期
或次數(shù)
試驗起
始點(diǎn)