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[供應(yīng)]金屬涂層表面電阻方阻測(cè)試儀
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- 更新日期：2019-10-28 09:46:20
- 有效期至：2020-10-27
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金屬涂層表面電阻方阻測(cè)試儀
詳細(xì)信息
一、概述：本品為解決四探針法測(cè)試金屬涂層復(fù)合材料超低阻材料方阻及電阻率，最小可以測(cè)試到1uΩ方阻值，是目前同行業(yè)中能測(cè)量到的最小值，采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度
、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).
雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，它與單電測(cè)直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。選購(gòu)：本機(jī)還可以配合各類環(huán)境溫度試驗(yàn)箱體使用，通過不同的測(cè)量治具滿足不同環(huán)境溫度下測(cè)量方阻和電阻率的需求.
二、廣泛用于：金屬涂層復(fù)合材料、覆蓋膜導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試
硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽(yáng)能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料，EMI防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等提供中文或英文兩種語(yǔ)言操作界面選擇，滿足國(guó)內(nèi)及國(guó)外客戶需求
三、參數(shù)資料
1.方塊電阻范圍
1×10-6～2×102Ω/□
2.電阻率范圍
10-7～2×103Ω-cm
3.測(cè)試電流范圍
1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA
4.電流精度
±0.1%
5.電阻精度
≤0.3%
6.顯示讀數(shù)
液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率
7.測(cè)試方式
組合雙電測(cè)試方法
8.工作電源
輸入:AC220V±10%，50Hz 功耗：<30W
9.整機(jī)不確定性誤差
≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）
10.選購(gòu)功能
選購(gòu)1.pc軟件；選購(gòu)2.方形探頭；選購(gòu)3.直線形探頭；選購(gòu)4.測(cè)試平臺(tái)
11.測(cè)試探頭
探針間距選購(gòu)：2mm；3mm兩種規(guī)格探針材質(zhì)選購(gòu)：碳化鎢針、鍍金磷銅半球形針
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