金東霖供應(yīng)菲希爾(FISCHER)膜厚測試儀能夠有效并精確的測量合金屬成分,只需短短數(shù)秒鐘,所有從17號元素氯到92號元素鈾的所有元素都能準(zhǔn)確測定。而且在不使用標(biāo)準(zhǔn)片做校正的情況下可達(dá)到一個相當(dāng)不錯的測量結(jié)果.X射線測厚儀操作也十分簡單不需要復(fù)雜、昂貴的儀器來抽真空,操作員只需將測試面朝下,不論大小的樣品可直接放進測量室內(nèi),不用調(diào)距離,只需對準(zhǔn)位置,便能在正常的環(huán)境下測量從元素Z=13鋁到Z=92(鈾),固定、漿狀及液體的樣本也可以測量,即使是極小不規(guī)則形狀的測量面積也可快速、免接觸的測量。
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
計算機系統(tǒng)配置 戴爾計算機
分析應(yīng)用軟件 操作系統(tǒng):Windows2000中文平臺 分析軟件包:SmartLink FP軟件包
X射線測厚儀測厚范圍 可測定厚度范圍:取決于您的具體應(yīng)用。
-基本分析功能 采用基本參數(shù)法校正。根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。
樣品種類:鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
可檢測元素范圍:CL17 – U92
X射線測厚儀的應(yīng)用范圍 : 1、分析電子部品電鍍層的厚度
2、各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析
3、各鍍層的成分比例分析。
聯(lián)系人:王生:13316557996
電話:0755-29371655
傳真:0755-29371653
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