廣州潤湖儀器有限公司

 SXJS-IV變頻抗干擾介質(zhì)損耗測試儀是用于超高壓現(xiàn)場介損的測量，用變頻抗干擾和傅立葉數(shù)字濾波技術(shù)，保持強電場干擾下測量數(shù)據(jù)穩(wěn)定、可靠測量結(jié)果由大屏幕雙色液晶屏清晰顯示，全中文操作界面，使用極其方便。 二、技術(shù)指標(biāo) 1、抗干擾方式：變頻抗干擾 2、試方式：正接法反接法自激法外接法 3、量范圍：電容量內(nèi)接高壓<60000PF 4、外接高壓:30P~600000PF 5、介損不限，zui小分辨率0.01% 6、確度：電容量±(1.5%讀數(shù)2PF) 7、介損±(2%讀數(shù)0.09%) 8、接試驗電源：0.5~10KV電壓緩升緩降 9、5~65Hz頻率可調(diào)45/55Hz自動雙頻測試 10、輸出電流200mA 11、源6~50V變頻zui大輸出電流20A 12、功能：電子萬年歷 13、準(zhǔn)RS232接口100組數(shù)據(jù)存儲 14、條件：供電電源180~240VAC50Hz 

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