昆山振弘檢測設(shè)備有限公司

EX-3000 螢光  X線膜厚計

EX-3000 螢光 X線膜厚計

●中文視窗操作測量系統(tǒng)

●解析度0.001μm

●最小測量面積0.1mm?

●可測量合金層之厚度和組成比例

●可測量2層以上鍍層之個別厚度

●藉由光譜分析可判定被測物之元素

●適用對象：IC導(dǎo)線架、封裝業(yè)

      PCB業(yè)、精密零件業(yè)

      電鍍業(yè)、電子業(yè)



COSMOS-2X 螢光 X線膜厚計

●中文視窗操作測量系統(tǒng)

●解析度0.001μm

●最小測量面積0.1mm?

●可測量合金層之厚度和組成比例

●可測量2層以上鍍層之個別厚度

●藉由光譜分析可判定被測物之元素

●適用對象：IC導(dǎo)線架、封裝業(yè)

      PCB業(yè)、精密零件業(yè)

      電鍍業(yè)、電子業(yè)

BTC-221 非破壞膜厚儀

●電腦視窗操作系統(tǒng)

●解析度0.001μm

●最小測量面積0.8mm?

●可測量合金層之厚度和組成比例

●可測量各種鍍層或非金屬之膜厚

●適用對象：PC板業(yè)

      裝飾品業(yè)

      精密零件業(yè)